FILAB (100/8+ Mitarbeiter) investiert jährlich fast 2 Mio. € in High-End-Techniken und hat kürzlich ein Rasterkraftmikroskop (AFM) für die extreme Oberflächencharakterisierung erworben.
FILAB (100/8+ Mitarbeiter) investiert jährlich fast 2 Mio. € in High-End-Techniken und hat kürzlich ein Rasterkraftmikroskop (AFM) für die extreme Oberflächencharakterisierung erworben. Das AFM ist ein hochauflösendes lokales Sondenmikroskop, das zur Visualisierung der Topographie der Oberfläche eines Medizinprodukts sowie seiner Tribologie und seines mechanischen, elektrischen oder chemischen Verhaltens verwendet werden kann.
Mit dieser Methode kann die Oberfläche der Probe Punkt für Punkt durch Abtasten einer aus einer nanometrischen Spitze bestehenden Sonde analysiert werden. Dieses Mikroskop ermöglicht die Untersuchung von Objekten in einem sehr kleinen Maßstab.
Mit dem AFM lassen sich alle Arten von Materialien charakterisieren, indem Rauheitsparameter, Elastizität, Adhäsion, Reibung, Oberflächenenergie usw. gemessen werden.
Es ist sehr nützlich für das Verständnis von Oberflächenproblemen und kann mit anderen analytischen High-End-Techniken, die das Labor anbietet, wie XPS, TOF-SIMS, SEM-EDS, TEM usw., kombiniert werden.
